光路干涉是物理學中的一個現象，指的是兩列或兩列以上的波在空間中相遇時，由于它們的疊加或抵消，從而形成新的波形。這一現象在光學中尤為明顯，尤其是在光的干涉中，表現為在某些區域光振動始終加強（形成明條紋），而在另一些區域則始終減弱（形成暗條紋），從而出現明暗相間的干涉條紋圖樣。

光路干涉檢測范圍

電子元件、金屬材料、化妝品、藥品包裝、建筑材料、光學鏡片、航空航天零部件、汽車零配件、半導體器件、液晶顯示屏、生物細胞、醫療設備、食品包裝、玻璃制品、纖維材料等。

光路干涉檢測項目

表面粗糙度、光譜特性、薄膜厚度、形貌偏差、干涉條紋密度、幅度分布、頻譜分布、干涉對比度、光學透過率、反射率、折射率、位移變化、平面度、曲率半徑、斜率角度、表面平整度、相位差、圖像畸變、光學色散、步進距離誤差等。

光路干涉檢測標準(部分)

DIN 65571-4-1992 航空和航天.增強纖維.激光干涉法測定纖維直徑

DIN EN ISO 3868-1995 金屬和其他無機鍍層.鍍層厚度測定.F氏多光束干涉法

GB/T 7962.3-2010 無色光學玻璃測試方法 第3部分：光學均勻性 全息干涉法

ASTM E2244-2011 用光學干涉儀測量反射薄膜共面長度的標準試驗方法

ASTM E2246-2011 用光學干涉儀測量反射薄膜應變梯度的標準試驗方法

BS ISO 16063-11-1999 振動和沖擊變換器的校準方法 第11部分:使用激光干涉測量的初步振動校準

ASTM E2245-2011 用光學干涉儀測量反射薄膜殘余應力的標準試驗方法

DIN 50441-3-1985 半導體工藝材料的檢驗; 半導體片幾何尺寸的測量; 用多射線干涉法測定拋光片表面的平面偏差

ASTM F1364-2003(2010) 使用校準設備證實非破壞性干涉激光成像輪胎檢驗系統的檢驗能力的規程

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光路干涉檢測流程

1、溝通需求(在線或電話咨詢);

2、寄樣(郵寄樣品支持上門取樣);

3、初檢(根據客戶需求確定具體檢測項目);

4、報價(根據檢測的復雜程度進行報價);

5、簽約(雙方確定--簽訂保密協議);

6、完成實驗(出具檢測報告，售后服務)。

檢測報告作用

1、為產品提供進出口服務。

2、為相關的研究論文提供數據。

3、控制產品品質，降低產品成本。

4、根據檢測報告的數據，改進產品質量。

5、協助公檢法部門對樣品質量進行檢測或成分化驗。

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